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高速半导体级12英寸未抛光硅片缺陷精细检测及分类技术项目(陕西省西安市)
高速半导体级12英寸未抛光硅片缺陷精细检测及分类技术项目(陕西省西安市)
项目地址:
定位
项目概况
更新时间:
2024-11-28(发布:2024-11-28)
项目阶段:
2024-11-28处于
立项审批
建设周期:
2025年1季度 - 2025年3季度
项目类型:
工业
面积:
投资金额:
2200万
建设性质:
新建
甲方类型:
私营企业
项目描述
项目拟购置硬件及软件设备共约12台(套)检测仪器4台(表面粗糙度测量仪、色差测量仪等)搬运设备4台,研发仪器4台(光学研发平台、干涉仪、视觉检测相机等)用于半导体光学检测设备开发及产业化,达到年产6台光学缺陷检测的能力
项目工期及阶段
工程备注:
1、手续办理情况:该项目只是做了一个立项,项目会不会做还不一定。2、设计完成情况:该项目设计尚未开始,设计尚未招标。3、土建施工情况:该项目主体尚未开始,施工尚未招标。4、设备采购情况:该项目设备采购尚未了解。
项目动态
1
2024-11-28
新增:业主
甲方单位联系人
1
位联系人
业主
单位:
西安芯晖检测技术有限公司
职位:
项目负责人
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设计院联系人
0
位联系人
暂无设计院联系人信息
承建方联系人
0
位联系人
暂无承建方联系人信息
分包方联系人
0
位联系人
暂无分包方联系人信息
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